- 제목: Statistically Resolving Thickness-Dependent Electrical Characteristics in Multilayer-MoS2 Transistors (link)
광학 이미지의 intensity를 기반으로 2차원 반도체 MoS₂ flake의 층수를 식별하고, 알고리즘 기반 필터링을 통해 고품질 flake를 선별하는 방법을 제시했습니다.
12만 개 이상의 flake 중 1,615개의 트랜지스터를 제작·분석하여 채널 두께(층수)에 따른 전하 주입 및 수송 특성을 통계적으로 규명했습니다. 이는 flake 두께와 전기적 특성 간의 상관관계를 대규모 데이터 기반으로 제시함으로써, 2차원 반도체 소자의 체계적 설계와 고속 연구를 가능하게 하는 기반을 제공합니다.
본 연구는 과학기술정보통신부 한국연구재단(NRF), 산업통상자원부, 산업기술기획평가원(KEIT) 등의 지원을 받아 수행되었습니다.